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二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡(SEM)是在各種科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同,SEMs使用電子而不是光來產(chǎn)生圖像。在SEM中,將聚焦的電子束掃描過樣品表面,電子與樣品之間的相互作用產(chǎn)生各種信號,被檢測到并轉(zhuǎn)換成圖像。初級電子束對表面進行高精度掃描,以便對樣品的地形和形態(tài)進行詳細(xì)檢查。SEM的主要優(yōu)點之一是能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像。
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二手蔡司場發(fā)射電鏡:具有出色的探測效率,能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,*高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備靈活性,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像,提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。
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二手蔡司冷場電鏡,二手熱場場發(fā)射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,擁有第三代GEMINI 鏡筒,可變壓強性能加上多種納米工具的使用,不用花費大量時間,使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能,超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制,納米技術(shù)等。
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二手蔡司場發(fā)射電鏡,蔡司SUPRA 40VP場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理,在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上,低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等,獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息
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二手蔡司場發(fā)射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產(chǎn)品配備有經(jīng)過改進的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內(nèi)二次電子探測器。SUPRA™系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導(dǎo)體事業(yè)部的納米技術(shù)系統(tǒng)部向市場推出的功能最多的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。具有當(dāng)前儀器所具有的所有特征:如在圖像質(zhì)量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩(wěn)定性、全分析型樣品室。
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二手蔡司場發(fā)射電鏡SUPRA 40VP是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,擁有第三代GEMINI 鏡筒,可變壓強性能加上多種納米工具的使用,不用花費大量時間,使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能,超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制,納米技術(shù)等。
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二手電鏡 二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌,分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像,成像信號可以是二次電子,背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子,通過信號收集和信號轉(zhuǎn)換到達(dá)屏幕,可以看到樣品表面的同步掃描照片,實現(xiàn)對樣品表面的形貌的觀察。
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供應(yīng)日立(二手)場發(fā)射掃描電鏡SEM 430型號掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場發(fā)射掃描電鏡,主要用于獲得納米尺寸級別的樣品表面形貌信息,可在高真空下實現(xiàn)高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測。配備兩種物鏡模式(浸沒式和無場式)。配備紅外CCD檢測相機,極靴內(nèi)二次電子檢測器,通用ET二次電子檢測器,低真空二次電子檢測
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二手高分辨率場發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種,掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像,廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析??梢杂^察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。
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二手場發(fā)射顯微鏡SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀,能同時進行樣品表層的微區(qū)點線面元素的定性、半定量及定量分分析,具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。
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