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產(chǎn)品名稱:二手SEM掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品型號:

更新時間:2024-06-28

產(chǎn)品特點:二手SEM掃描電子顯微鏡SU3500所具備的新型的模擬圖像和改進后的電子光學(xué)系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時,SE圖像可達7nm,5KV電壓時,BSE圖像可達10nm。最新開發(fā)的自動多級電子槍偏壓機構(gòu)能夠在不降低電子束大小的情況下,在一定范圍內(nèi)的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此,此款產(chǎn)品與S-3400N相比,噪音得以大幅減少,成像更加清晰。

產(chǎn)品詳細(xì)資料:

二手SEM掃描電子顯微鏡日立高新高畫質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質(zhì)量更進一步。
日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實現(xiàn)了“3kV加速電壓7nm分辨率"的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能"*1, 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器

特點

低加速電壓觀察時分辨率更高,可更好地觀察樣品最表面的細(xì)微形狀和更有效地降低樣品的損壞
全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和信號處理技術(shù)實現(xiàn)了高速掃描和低噪音的觀察
和以前的常規(guī)掃描電子顯微鏡相比,自動功能縮短。
具有在低真空時可以非常好地觀察樣品最表面的細(xì)微形狀的“UVD(超高靈敏度可變壓力探測器)
具有實現(xiàn)了實時立體成像的“實時立體觀察功能
(*1):自選
(*2):和日立SEM S-3400N相比
(*3):根據(jù)觀察條件的不同,時間會有變動
(*4):自選


二手SEM掃描電子顯微鏡規(guī)格                                                                           


項目

描述

二次電子分辨率3.0nm(加速電壓=30kV,WD=5mm高真空模式)
7.0nm(加速電壓=3kV,WD=5mm高真空模式)
背散射電子分辨率4.0nm(加速電壓=30kV,WD=5mm低真空模式)
10.0nm(加速電壓=5kV,WD=5mm高真空模式)
放大倍率5 - 300,000倍(底片倍率*5
7 - 800,000倍(顯示器顯示倍率*6
加速電壓0.3 - 30kV
可變壓力范圍6 - 650Pa
最大樣品尺寸直徑 200mm
樣品臺X0 - 100mm
Y0 - 50mm
Z5 - 65mm
R360°
T-20° - 90°
可觀察區(qū)域直徑 130mm (旋轉(zhuǎn)并用)
最大樣品高度80mm(WD=10mm)
馬達臺5軸標(biāo)配
電子光學(xué)系統(tǒng)電子槍預(yù)對中的鎢燈絲
物鏡光闌4孔可動光闌
探檢測器埃弗哈特 索恩利 二次電子探測器
高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測器
EDX分析 WD10mm(取出角35°)
圖像顯示操作系統(tǒng)Windows® 7*7(如有更改,恕不另行通知)
圖像顯示模式全屏模式(1,280 × 960 像素)
小屏模式(800 × 600 像素)
雙圖像顯示(800 × 600 像素)
四屏幕顯示(640 × 480像素)
信號混合模式
排氣系統(tǒng)操作全自動排氣
渦輪分子泵210升/秒 × 1
機械泵135L/min(162L/min,60Hz)× 1


1.成像功能

 SU3500日立掃描電子顯微鏡所具備的新型的模擬圖像和改進后的電子光學(xué)系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時,SE圖像可達7nm,5KV電壓時,BSE圖像可達10nm。開發(fā)的自動多級電子槍偏壓機構(gòu)能夠在不降低電子束大小的情況下,在一定范圍內(nèi)的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此,此款產(chǎn)品與S-3400N相比,噪音得以大幅減少,成像更加清晰。

  通過SU3500的開發(fā)并優(yōu)化過的圖像處理方法,現(xiàn)在可以很容易地在快速掃描模式下觀察到低噪聲的圖像。高速自動聚焦控制(AFC)和自動亮度及對比度控制(ABCC)的增強,使您可以縮短*2SEM(掃描電子顯微鏡)的觀察循環(huán)時間(TAT)

2.低真空功能操作的優(yōu)異性

  新設(shè)計的真空程序使真空范圍可以達到6-650Pa,實時真空反饋允許在用戶特定的壓力設(shè)定下保持樣品室的快速的真空穩(wěn)定性。在低真空模式下直接觀察更清晰。

 SU3500日立掃描電子顯微鏡具有一個可變壓力模式,允許對處于自然狀態(tài)下的潮濕,油膩和非導(dǎo)電樣品進行觀察。由于正電離子是電子束撞擊殘余氣體分子的結(jié)果,所以不需要進行傳統(tǒng)的樣品前處理,比如干燥和金屬鍍層。

  新開發(fā)的超高靈敏度可變壓力探測器得以進一步優(yōu)化,特別是在可變壓力模式下觀察超薄表面的微觀結(jié)構(gòu)方面。通過同時觀察從標(biāo)準(zhǔn)BSE探測器得到的組成圖像,使得在多種應(yīng)用下進行的各種各樣的分析都成為可能。振木以銅礦物、樹脂填料、水虱等圖像為例真實的再現(xiàn)了SU3500的這項功能。





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