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產(chǎn)品名稱(chēng):二手SEM掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品型號:

更新時(shí)間:2024-06-28

產(chǎn)品特點(diǎn):二手SEM掃描電子顯微鏡SU3500所具備的新型的模擬圖像和改進(jìn)后的電子光學(xué)系統以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時(shí),SE圖像可達7nm,5KV電壓時(shí),BSE圖像可達10nm。最新開(kāi)發(fā)的自動(dòng)多級電子槍偏壓機構能夠在不降低電子束大小的情況下,在一定范圍內的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此,此款產(chǎn)品與S-3400N相比,噪音得以大幅減少,成像更加清晰。

產(chǎn)品詳細資料:

二手SEM掃描電子顯微鏡日立高新高畫(huà)質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質(zhì)量更進(jìn)一步。
日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實(shí)現了“3kV加速電壓7nm分辨率"的全新電子光學(xué)系統, 可實(shí)現實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀(guān)察功能"*1, 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器

特點(diǎn)

低加速電壓觀(guān)察時(shí)分辨率更高,可更好地觀(guān)察樣品最表面的細微形狀和更有效地降低樣品的損壞
全新設計的電子光學(xué)系統和信號處理技術(shù)實(shí)現了高速掃描和低噪音的觀(guān)察
和以前的常規掃描電子顯微鏡相比,自動(dòng)功能縮短。
具有在低真空時(shí)可以非常好地觀(guān)察樣品最表面的細微形狀的“UVD(超高靈敏度可變壓力探測器)
具有實(shí)現了實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀(guān)察功能
(*1):自選
(*2):和日立SEM S-3400N相比
(*3):根據觀(guān)察條件的不同,時(shí)間會(huì )有變動(dòng)
(*4):自選


二手SEM掃描電子顯微鏡規格                                                                           


項目

描述

二次電子分辨率3.0nm(加速電壓=30kV,WD=5mm高真空模式)
7.0nm(加速電壓=3kV,WD=5mm高真空模式)
背散射電子分辨率4.0nm(加速電壓=30kV,WD=5mm低真空模式)
10.0nm(加速電壓=5kV,WD=5mm高真空模式)
放大倍率5 - 300,000倍(底片倍率*5
7 - 800,000倍(顯示器顯示倍率*6
加速電壓0.3 - 30kV
可變壓力范圍6 - 650Pa
最大樣品尺寸直徑 200mm
樣品臺X0 - 100mm
Y0 - 50mm
Z5 - 65mm
R360°
T-20° - 90°
可觀(guān)察區域直徑 130mm (旋轉并用)
最大樣品高度80mm(WD=10mm)
馬達臺5軸標配
電子光學(xué)系統電子槍預對中的鎢燈絲
物鏡光闌4孔可動(dòng)光闌
探檢測器埃弗哈特 索恩利 二次電子探測器
高靈敏度半導體背散射電子檢測器
EDX分析 WD10mm(取出角35°)
圖像顯示操作系統Windows® 7*7(如有更改,恕不另行通知)
圖像顯示模式全屏模式(1,280 × 960 像素)
小屏模式(800 × 600 像素)
雙圖像顯示(800 × 600 像素)
四屏幕顯示(640 × 480像素)
信號混合模式
排氣系統操作全自動(dòng)排氣
渦輪分子泵210升/秒 × 1
機械泵135L/min(162L/min,60Hz)× 1


1.成像功能

 SU3500日立掃描電子顯微鏡所具備的新型的模擬圖像和改進(jìn)后的電子光學(xué)系統以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時(shí),SE圖像可達7nm,5KV電壓時(shí),BSE圖像可達10nm。開(kāi)發(fā)的自動(dòng)多級電子槍偏壓機構能夠在不降低電子束大小的情況下,在一定范圍內的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此,此款產(chǎn)品與S-3400N相比,噪音得以大幅減少,成像更加清晰。

  通過(guò)SU3500的開(kāi)發(fā)并優(yōu)化過(guò)的圖像處理方法,現在可以很容易地在快速掃描模式下觀(guān)察到低噪聲的圖像。高速自動(dòng)聚焦控制(AFC)和自動(dòng)亮度及對比度控制(ABCC)的增強,使您可以縮短*2SEM(掃描電子顯微鏡)的觀(guān)察循環(huán)時(shí)間(TAT)

2.低真空功能操作的優(yōu)異性

  新設計的真空程序使真空范圍可以達到6-650Pa,實(shí)時(shí)真空反饋允許在用戶(hù)特定的壓力設定下保持樣品室的快速的真空穩定性。在低真空模式下直接觀(guān)察更清晰。

 SU3500日立掃描電子顯微鏡具有一個(gè)可變壓力模式,允許對處于自然狀態(tài)下的潮濕,油膩和非導電樣品進(jìn)行觀(guān)察。由于正電離子是電子束撞擊殘余氣體分子的結果,所以不需要進(jìn)行傳統的樣品前處理,比如干燥和金屬鍍層。

  新開(kāi)發(fā)的超高靈敏度可變壓力探測器得以進(jìn)一步優(yōu)化,特別是在可變壓力模式下觀(guān)察超薄表面的微觀(guān)結構方面。通過(guò)同時(shí)觀(guān)察從標準BSE探測器得到的組成圖像,使得在多種應用下進(jìn)行的各種各樣的分析都成為可能。振木以銅礦物、樹(shù)脂填料、水虱等圖像為例真實(shí)的再現了SU3500的這項功能。





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