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產品名稱:二手ICP-OES光譜儀

產品型號:

更新時間:2020-03-29

產品特點:二手ICP-OES光譜儀:系統(tǒng)能處理難度高的、未經(jīng)稀釋的高基體樣品,為ICP 帶來全新的性能及靈活性。
而且,的性能還帶來了*的易用性。*的硬件特性與業(yè)界直觀易用的軟件相結合,使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。

產品詳細資料:

二手ICP-OES光譜儀作為市場上小巧的 ICP,可通過以下性能,提供高效的操作、可靠的數(shù)據(jù)和低的擁有成本:

  • 所有 ICP 中低的氬氣消耗

  • 快的 ICP 啟動(從關機狀態(tài)啟動,光譜儀在短短幾分鐘內即可準備就緒)

  • 對所有適用的元素都具有出色的靈敏度與分辨率

  • 具有雙向觀測技術的寬線性范圍

性能可靠、功能強大、經(jīng)濟實惠、具備您所尋求的 ICP所具有的一切。

 

既然可以成為*,誰還愿意當操作者?

 

專為滿足挑戰(zhàn)性的客戶需求并超越此類需求而設計,憑借一系列專有*的功能,可幫助您運行多個樣品,所取得的成本效益遠超以往任何時候。

 

低的運行成本

借助獲得的 Flat Plate™ (平板) 等離子體技術,僅需消耗其他系統(tǒng)一半的氬氣量,即可生成強健、耐基體的等離子體,同時賦予您:

  • 所有 ICP 中低的操作成本

  • 無需再進行與傳統(tǒng)螺旋負載線圈有關的冷卻和維護,提供出色的運行時間和生產力

 

另外,為了提高效率,珀金埃爾默儀器具有獲得的動態(tài)波長,穩(wěn)定功能??闪钅鷱年P機狀態(tài)啟動,在短短幾分鐘內即可進行分析,因而您大可在儀器不使用時隨意關掉。

 

強大的雙向觀測功能

與提供軸向和徑向觀測而犧牲性能的同步垂直雙向觀測 ICP 系統(tǒng)不同,系統(tǒng)獲得的雙向觀測功能,可測量所有波長,不會造成光或靈敏度的損失。即使是波長大于 500 納米或低

于 200 納米的元素也*可以測量,即便是在 ppb 的含量水平。該 系統(tǒng)*的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態(tài)范圍,確保實現(xiàn):

  • 樣品制備和稀釋小化

  • 高、低濃度可以在同一運行中進行測量

  • 更好的質量控制和更準確的結果

  • 減少重復運行

 

集成等離子體觀測相機

可簡化您的開發(fā)方法,同時借助  系統(tǒng)的 PlasmaCam™技術,盡享遠程監(jiān)控等離子體的便利。作為行業(yè),彩色相機

可幫助您:

  • 實時觀測等離子體

  • 執(zhí)行遠程診斷

  • 查看進樣部件

 

革新性 PlasmaShear 系統(tǒng),可實現(xiàn)無氬干擾消除

為了消除軸向觀測的干擾,需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 更有效、更可靠或更經(jīng)濟。

其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量,系統(tǒng)*的 PlasmaShear™ 技術只需空氣即可。無需高維護、高提取系統(tǒng)或錐體。就是一個*集成的、*自動化的、能提供*軸向分析的干擾消除系統(tǒng)。

 

CCD 檢測器,可實現(xiàn)的準確度和精密度

借助全波長功能,系統(tǒng)的強大電荷耦合器件(CCD)檢測器能不斷提供正確的答案。

Avio 系統(tǒng)的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍,實時扣背景,實現(xiàn)出色的檢測精密度。在分析過程中,它還可以同時執(zhí)行背景校正測量,進一步提高準確度和靈敏度。

 

帶有快速轉換炬管底座的垂直等離子體,可實現(xiàn)的基體靈活性

二手ICP-OES光譜儀即使 正在運行,系統(tǒng)的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調節(jié),可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。炬管底座的設計與眾不同,具有以下特點:

  • 一個可拆卸的、獨立于炬管的中心管,旨在減少維護和破損的可能性

  • 自動自對準,即使在拆卸后也能提供一致的深度設置

  • 兼容各種霧化器和霧室,可提高靈活性

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